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儀器預設標準A光源及D65光源文件，并可根據用戶需求，由用戶意設定存儲標準光源。儀器可根據不同參考光源自動修正探測器的光譜參數誤差，達到屏幕的亮度、屏幕的亮度不均勻性、色品坐標和色溫的測量。其測量度達到際水平。

LED光強分布測試儀用于LED發光強度曲線分布測量?？蔀長ED提供各種電參數，該儀器具有計算機控制電調節，可自動快速測量等點。

GSZ-CV-2000型電容電壓性測試儀是測試頻率為1MHz的智能化數字的電容測試儀器，用于測試半導體器件PN結的勢壘電容在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。

該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測試半導體材料縱向電阻率的用儀器。 儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。

方型四探針探頭是種門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，用于測量小樣品的四探針探頭，可用于般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質的薄層電阻。

方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的薄層電阻。